OPIS

W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji. Książka ukazuje możliwości, jakie posiadają dzisiejsze graficzne, zintegrowane środowiska programowe, zarówno pomiarowe, jak i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się w procesie projektowania systemów pomiarowych.

DODATKOWE INFORMACJE

RECENZJEjak działają recenzje?NAPISZ SWOJĄ RECENZJĘ