Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych.

okładka

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych.

Nakład produktu jest wyczerpany

Kliknij tutaj, jeśli chcesz otrzymać maila, gdy produkt stanie się ponownie dostępny

OPIS

Publikacja zawiera materiały na IX Krajową Konferencję z cyklu „Diagnostyka Edukacyjna”, Łódź, wrzesień 2003 roku. W części teoretycznej zamieszczone są teksty przekazujące nową wiedzę o problematyce pomiaru, porządkującą pojęcia oraz dające przykłady modeli i metod badawczych. W części szczegółowej materiały koncentrują się wokół zagadnień trafności egzaminowania, motywacji ucznia i etyki egzaminatora.

DODATKOWE INFORMACJE

  • Format:170x240 mm
  • Liczba stron:396
  • Oprawa:miękka
  • ISBN-13:9788387814922
  • Data wydania:2003
  • Numer katalogowy:101178

RECENZJEjak działają recenzje?

Lista recenzji jest pusta

DOSTAWA

DARMOWA dostawa powyżej 299 zł!

Realizacja dostaw poprzez:

  • ups
  • paczkomaty
  • ruch
  • poczta

OPINIE

Nasza strona używa plików cookies, w celu ułatwienia Ci zakupów. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności

© 2006-2025 Gildia Internet Services Sp. z o.o. and 2017-2025 Prószyński Media Sp z o.o. PgSearcher