Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

okładka

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Produkt jest aktualnie niedostępny

Kliknij tutaj, jeśli chcesz otrzymać maila, gdy produkt się ukaże.

OPIS

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

DODATKOWE INFORMACJE

  • Format:165x235 mm
  • Liczba stron:450
  • Oprawa:twarda
  • ISBN-13:9788301232962
  • Data wydania:13 listopad 2023
  • Numer katalogowy:578865

RECENZJEjak działają recenzje?

Lista recenzji jest pusta

DOSTAWA

DARMOWA dostawa powyżej 299 zł!

Realizacja dostaw poprzez:

  • ups
  • paczkomaty
  • ruch
  • poczta

OPINIE

Nasza strona używa plików cookies, w celu ułatwienia Ci zakupów. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności

© 2006-2024 Gildia Internet Services Sp. z o.o. and 2017-2024 Prószyński Media Sp z o.o. PgSearcher